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产品分类

产品信息
产品名称：日本SANKO NFe-0.6膜厚计,SANKO广州代理,藤野贸易供应NFe-0.6膜厚计
产品型号：NFe-0.6膜厚计
生产厂商：SANKO山高
产品数量：不限
产品单价：电议
详细介绍

日本SANKO NFe-0.6膜厚计,SANKO广州代理,藤野贸易供应NFe-0.6膜厚计

 山高（SANKO）电子研究所自1963年（昭和38年）创立以 来，为了满足客户的需求，我公司一直致力于膜厚计，检针器，水分计，微孔检测仪等检测仪器的研发，生产和销售，并建立了完善的售后服务体制。      


主要产品：膜厚计，检针器，水分计，针孔探知器，铁片探知器，钢筋探知器，金属探知器，超声波测厚仪，结露计，其它       职 种：电子测量仪器，工业仪器的研发、制造和销售


       测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料) 
 
        膜厚测试仪，分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
 磁感应测量原理/膜厚测试仪
       采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。
 磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
 电涡流测量原理/膜厚测试仪
       高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
 采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适
 X射线衍射装置（XRD）/膜厚测试仪
       简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
 具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
 萤光X射线装置（XRF）/膜厚测试仪
       X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。 
  日本SANKO山高产品：
 膜厚计、测定器
 膜厚计-电磁式，涡流式
 SWT-9000，SWT-9100，SWT-9200，SWT-9300，SAMAC-FN，SAMAC-Pro
 膜厚计-电磁式
 CTR-2000 III，TL-50，SM-Pen，SWT-9000F，SAMAC-F，SP-3300D，Pro-1，Pro-2，SL-120C，SL-200E
 膜厚计-涡流式
 SWT-9000N
 超声波膜厚计
 ULT-5000，UDM-550V，SF-1150，
 探头-电磁感应式
 Fe-2.5，Fe-2.5L，Fe-2.5LwA，Fe-10，Fe-0.6，Fe-20，Fe-0.6Pen，SL-5P
 探头-涡流式
 NFe-2.0，NFe-2.0L，NFe-0.6，NFe-8，FN-325
 膜厚计
 318/318S，
 SANKO山高粒度计232，
 表面盐分计
 SNA-3000，
 光泽计
 SG-6，SG-268
 环境监测计SE-250，SE-250D


藤野贸易,藤野贸易（广州）有限公司,   
公司网址：www.fujinotrade.com
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