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产品信息

产品名称:OTSUKA广州代理OTSUKA 内置膜厚监控器 FE-340C 大塚电子
产品型号:OTSUKAOTSUKA FE-340C
生产厂商:OTSUKA大塚电子
产品数量:不限
产品单价:电议

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特 長

分光干渉法を用いた膜厚計 高精度FFT膜厚解析エンジンを搭載(特許 第4834847号) オプティカルファイバーにより自由な測定系の構築が可能 各種製造装置への組み込みが可能 リアルタイムでの膜厚測定が可能 遠隔操作、多点測定に対応 長寿命、高安定性の白色LED光源を採用

測定項目

多層膜厚解析

用 途

光学フィルム(ハードコート、ARフィルム、ITOなど) FPD関連(レジスト、SOI、SiO2など) 仕 様
型式 FE-3/40C FE-3/200I 全測定方式 分光干渉式 測定膜厚範囲(nd値) 20 nm ~ 40 µm 3 µm ~ 200 µm 測定波長範囲 430 nm ~ 650 nm 900 nm ~ 1600 nm 膜厚精度 ± 0.2 nm 以内 *1 - 繰り返し精度 0.1 nm 以内 *2 - 測定時間 0.1 s ~ 10 s 以内 スポット径 約 φ 1.2 mm 光源 白色LED ハロゲン オプティカルファイバー 投受光用Y型ファイバー 1.5 m ~ 100 m 寸法、重量 300(W) × 300(D) × 150(H) mm、 約 10 kg ソフトウェア ピークバレイ解析、FFT解析、適化法解析 *1 VLSI社製膜厚スタンダード(100nm SiO2/Si)の膜厚保証書記載の測定保証値範囲に対して
*2 VLSI社製膜厚スタンダード(100nm SiO2/Si)の同一ポイント繰り返し測定時における拡張不確かさ(包括係数2.1)




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